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por Rodrigo P. B. Costa-Félix

A ausência de bibliografia básica em português nas áreas de metrologia e avaliação da conformidade é um consenso na comunidade científica e tecnológica. Existem poucos textos compreensivos que podem ser base para o ensino nessas áreas, bem como servir de apoio aos técnicos nas diversas áreas produtivas. E isso prejudica a formação de nossos profissionais. Essa carência, detectada nas “Diretrizes Estratégicas para a Metrologia Brasileira”, compromete a qualidade de nossos see more produtos, é desfavorável para o cidadão e o meio ambiente e diminui nossa competitividade. Este livro, primeiro volume de uma trilogia, foi organizado com a intenção de preencher uma lacuna na literatura técnica em Metrologia. O primeiro volume cobre 15 assuntos de interesse de profissionais da indústria, de professores e estudantes de diversos níveis, além de profissionais liberais e consultores. É dedicado aos fundamentos da Metrologia. Nele são abordados os seguintes temas: história da metrologia, sistema internacional de unidades (SI), vocabulário internacional de metrologia (VIM), incerteza de medição, validação de métodos de medição, materiais de referência, ensino de metrologia no Brasil, estrutura e organização da metrologia nacional e internacional, metrologia legal, avaliação da conformidade e as demais ferramentas de tecnologia industrial básica (TIB). Foram envolvidos mais de 45 profissionais na realização desse projeto, incluindo organizadores, autores e revisores técnicos.
Espera-se que seja dada uma necessária contribuição a melhor educação e formação de nossos profissionais, gestores e empresários, garantindo melhores condições para nossos desenvolvimento econômico e social.

por MILLAN GOMEZ, SIMON

1. Unidades y magnitudes físicas; 2. Aparatos de medida y control; 3. Tolerancias y verificación; 4. Conocimiento de materiales; 5. Ensayos de materiales; 6. Inspección y calibración; Glosario técnico del metal.

por Franco Pavese

Since the beginning of the preparation of this volume, we have been convinced that temperature and pressure measurements should not be separated, particularly in different applications at low temperatures. This belief has made us deeply conscious of the fact that the advanced applications and modern experimental methods of investigation in science and technology need the combination of various professional experiences and approaches. Although the book is divided into two parts (Part I by F. see more Pavese and Part II by G. F. Molinar), we have tried to correlate low-temperature and low-pressure measurements as much as possible. We hope that our readers will find this book, which contains a large number of experimental and reference data, useful in their effort to solve measurement problems. We are pleased to acknowledge our debt to several persons and wish to express our gratitude to them for their valuable cooperation and help: to our research group colleagues at the Istituto di Metrologia "G. Colonnetti" -IMGC (CNR), without whom the knowledge and the experience we built up during many years could not have been acquired; to G. T. McConville, M. Durieux, and K. Grohmann for revisions of and various suggestions for Part I; to V. E. Bean and C. R. Tilford of NIST and G. T. McConville for revisions of and various suggestions for Part II; and to I. Prinetti of IMGC for many valuable suggestions and careful textual revisions.

por Book 66

This volume collects refereed contributions based on the presentations made at the Sixth Workshop on Advanced Mathematical and Computational Tools in Metrology, held at the Istituto di Metrologia “G. Colonnetti” (IMGC), Torino, Italy, in September 2003. It provides a forum for metrologists, mathematicians and software engineers that will encourage a more effective synthesis of skills, capabilities and resources, and promotes collaboration in the context of EU programmes, EUROMET and EA see more projects, and MRA requirements. It contains articles by an important, worldwide group of metrologists and mathematicians involved in measurement science and, together with the five previous volumes in this series, constitutes an authoritative source for the mathematical, statistical and software tools necessary to modern metrology.The proceedings have been selected for coverage in:Index to Scientific & Technical Proceedings® (ISTP® / ISI Proceedings)Index to Scientific & Technical Proceedings (ISTP CDROM version / ISI Proceedings)CC Proceedings — Engineering & Physical Sciences

por Gianfranco Malagola

 Questo volume non è un libro di testo scolastico e non è un manuale. È un testo scritto per gli “addetti ai lavori”, per risolvere i problemi di coloro che ogni giorno hanno a che fare con le misure dimensionali nell’industria meccanica. Dovete scegliere quale strumento di misura usare? State pensando di accostarvi al mondo della metrologia a coordinate magari per acquistare una CMM, oppure per verificare in modo adeguato le tolleranze geometriche? Volete che il vostro sistema di see more gestione sia conforme alla normativa garantendo la riferibilità metrologica delle misure ed effettuando adeguatamente il processo di conferma metrologica? Volete seguire un percorso formativo completo, che vi consenta di affrontare con consapevolezza i problemi di misura e quelli di stima dell’incertezza? Questo libro (edizione riveduta ed ampliata del precedente “La Metrologia dimensionale per l’industria meccanica”) vi sarà di valido aiuto! Contiene infatti, rispetto alla precedente edizione, un’ampia sezione che riguarda la taratura degli strumenti con esempi completi di procedure di taratura per i più comuni strumenti di misura meccanici. Rappresenta un ottimo punto di partenza per chi in azienda vuole eseguire autonomamente il processo di taratura.

por Prof. Osmar

Este livro trata de instrumentos convencionais de medição, tais como: Paquímetro (0,1 - 0,05 - 0,02 mm), Micrômetros 0,01 e 0,001 mm e relógios comparadores, bem como exercícios com súbitos. Nele também há um apanhado das tolerâncias (Lineares, Angulares, de Ajuste e de Forma) e exercícios de transformação de polegadas fracionárias e milionésimo de polegada para milímetro.